联络我们
伯东企业(上海)有限公司
Hakuto Enterprises(Shanghai) Ltd.

  1. 如何选择 InTest 热流仪配套测试腔

  2. InTest ATS-535 双界面 IC 卡芯片高低温冲击测试

  3. InTest ATS-535 热流仪半导体芯片高低温测试

  4. InTest ATS-545 热流仪用于12寸存储器芯片 MRAM 研发测试

  5. InTest ATS-545 时钟芯片高低温冲击测试

  6. InTest ATS-710-M 热流仪半导体芯片高低温测试

  7. InTest ATS-710E 热流仪触摸屏控制芯片高低温冲击测试

  8. InTest 热流仪微控制器 MCU 芯片高低温测试

  9. InTest ATS-545 热流仪光通信模块, 光纤收发器高低温测试

  10. 美国 KRi 霍尔离子源 eH 400 辅助镀膜 IBAD 应用

想了解更多?

  1. 想了解更多詳細規格吗？ 获取详细资料!

  2. 想为您的实验找到最合适的產品？ 咨询免费!

  3. 立即咨询获取报价

在线客服 · 咨询 WEB 询问表单 139-1883-7267 +86 21 5046 3511
帮助您找到满意的产品和应用，欢迎联系上海伯东!

Copyright © HAKUTO ENTERPRISES (SHANGHAI) LTD. Allrights Reserved. Design by Maya

首页 找产品 品牌 应用 联络